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便携x射线荧光光谱仪(XRF)是一种现代化的设备，可用于分析不同类型的材料中的元素成分。简单来说，它是一种利用x射线激发样品并测量样品辐射的技术。
其优点在于它的便携性，可以轻松携带到各种巨型建筑物，工业设备，甚至是远程现场，用于采集数据和分析物质成分。这种设备能够实现非破坏性分析，即无需取样品。因此，这种设备既方便又快速。
现代化的便携式x射线荧光光谱仪能够测量几乎任何材料的成分，例如食品，化学品，建筑材料等。这种设备可以用于确认建筑材料是否符合质量要求，检验yao品的成分，检测生产过程中有否化学物质泄漏等等。此外，它还在金属与矿物采掘方面有着广阔的应用前景。
便携x射线荧光光谱仪(XRF)对110kV隔离开关触头的腐蚀故障分析中，分析故障隔离开关触头镀层的化学成分，发现厂家使用银氧化锡(Ag-SnO2)镀层代替镀银层。分析认为在工业含硫大气环境中，Ag-SnO2镀层中的银被SO2、H2S等硫化物腐蚀，铜基体在潮湿环境下腐蚀生成Cu2(OH)2CO3，从而导致隔离开关触头导电回路的接触电阻升高，引发过热故障。针对此次故障，提出了解决措施和建议。
高压隔离开关是电力系统中使用较多、应用较广的一次设备。由于高压隔离开关多在户外运行，长期受风吹、雨淋、雷电、潮气、盐雾、凝露、冰雪、沙尘、污秽，以及SO2、H2S、NO2、氯化物等大气污染物的影响，因此各部件会发生不同程度的腐蚀。高压隔离开关触头是关键部件，承担着转接、隔离、接通、分断等任务，其工作状态的好坏直接影响整个电力系统的运行。高压隔离开关触头的基体为纯铜，但纯铜易被腐蚀，会造成表面接触电阻升高，引发过热故障，影响开关设备和电网的安全稳定运行。为了减小接触电阻，规定：隔离开关触头表面须镀银，且镀银层厚度不小于20 μm，以获得较低的接触电阻，从而保证良好的导电性。然而，在实际运行中，很多厂家生产的高压隔离开关产品会出现触头腐蚀、变色发黑、发热等故障，一般是由触头镀锡代替银或镀银层厚度不足造成。
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